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LOW COST AND MASK REDUCTION METHOD FOR HIGH VOLTAGE DEVICES

机译:高压设备的低成本和降低成本的方法

摘要

Aspects of the present disclosure provides a device comprising a P-type semiconductor substrate, an N-type tub above the semiconductor substrate, a P-type region provided in the N-type tub isolated by one or more P-type isolation structures, and an N-type punch-through stopper provided under the P-type regions isolated by the isolation structure(s). The punch-through stopper is heavily doped compared to the N-type tub. The P-type region has a width between the two isolation structures that is equal to or less than that of the N-type punch-through stopper.
机译:本公开的方面提供一种装置,包括:P型半导体衬底,在半导体衬底上方的N型桶,设置在N型桶中的由一个或多个P型隔离结构隔离的P型区域,以及在由隔离结构隔离的P型区域下方提供的N型穿通塞。与N型桶相比,穿通塞重掺杂。 P型区域在两个隔离结构之间具有等于或小于N型穿通塞的宽度。

著录项

  • 公开/公告号US2016254347A1

    专利类型

  • 公开/公告日2016-09-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ALPHA AND OMEGA SEMICONDUCTOR INCORPORATED;

    申请/专利号US201514633785

  • 发明设计人 SIK LUI;HIDEAKI TSUCHIKO;

    申请日2015-02-27

  • 分类号H01L29/06;H01L21/266;H01L21/761;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 14:34:37

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