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Device feedback sensor testing methodology for humidity and temperature probes

机译:湿度和温度探头的设备反馈传感器测试方法

摘要

An embodiment of the present invention is an algorithmic method for testing performance characteristics of humidity and temperature probes, i.e., accuracy, stability, and repeatability of humidity and temperature sensor probes over a user selected dynamic range, which is programmable by an end user. Further, the testing is accomplished and completed by using a specially designed humidity and temperature test chamber that is traceable to NIST (National Institute of Science and Technology). Ongoing, and final, testing results are made visible for study by the end user via a computer display, and there is printout availability. Further, testing in the chamber utilizes a method for probe attachment to the chamber and control thereof.
机译:本发明的一个实施例是一种算法方法,用于测试湿度和温度探头的性能特征,即在用户选择的动态范围内湿度和温度传感器探头的精度,稳定性和可重复性,该方法可由最终用户编程。此外,通过使用可溯源至NIST(美国国家科学技术研究院)的专门设计的湿度和温度测试室来完成并完成测试。最终用户可以通过计算机显示器看到正在进行的最终测试结果,以供研究,并且可以打印输出。此外,在腔室中的测试利用一种用于将探针附接到腔室并对其进行控制的方法。

著录项

  • 公开/公告号US9389129B2

    专利类型

  • 公开/公告日2016-07-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KAMAL MAHAJAN;

    申请/专利号US201113304502

  • 发明设计人 KAMAL MAHAJAN;

    申请日2011-11-25

  • 分类号G01K1/02;G01R1/04;G06F3/01;G06F3/02;G01K15/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 14:33:07

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