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- NON-VOLATILE SRAM CELL THAT INCORPORATES PHASE-CHANGE MEMORY INTO A CMOS PROCESS

机译:-将相变存储器集成到CMOS工艺中的非易失性SRAM单元

摘要

two cross formed by the CMOS technology, - the first and second elements kalko genik SRAM cell and integrated in order to add a non-volatile characteristic to the SRAM cell and the storage cells having a coupled inverters. PCM resistance is programmed to the SET state and the RESET state, SRAM cell while the power is on and brings the data contained within the PCM cell.
机译:由CMOS技术形成的两个交叉点-第一和第二元件kalko genik SRAM单元并集成在一起,以便为SRAM单元和具有耦合反相器的存储单元增加非易失性特性。将PCM电阻编程为SET状态和RESET状态,在SRAM单元通电的同时将PCM单元中包含的数据带入。

著录项

  • 公开/公告号KR101626345B1

    专利类型

  • 公开/公告日2016-06-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 누모닉스 비.브이.;

    申请/专利号KR20100097820

  • 发明设计人 팩켄달 리차드;

    申请日2010-10-07

  • 分类号G11C13/00;G11C11/41;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 14:12:25

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