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Framework for collecting and analyzing sensor data from semiconductor manufacturing process

机译:用于收集和分析来自半导体制造过程的传感器数据的框架

摘要

A framework for collecting and analyzing sensor data originating from equipment in a semiconductor production process, comprising: a persistence layer responsible for storing and loading data from and into the repository; A developer component layer, an engineer component layer where logic changes and adjustments are made by an engineer, and an integration layer for integration with other systems.
机译:一种用于收集和分析源自半导体生产过程中的设备的传感器数据的框架,包括:持久层,负责将数据存储在存储库中以及从存储库中加载数据;开发人员组件层,工程师进行逻辑更改和调整的工程师组件层以及用于与其他系统集成的集成层。

著录项

  • 公开/公告号KR101650886B1

    专利类型

  • 公开/公告日2016-08-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 주식회사 비스텔;

    申请/专利号KR20140119354

  • 发明设计人 김동필;김의남;한지훈;최운규;

    申请日2014-09-05

  • 分类号G06F17;G06F17/40;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 14:12:03

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