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A method for doping of an active hall - effect - area of a hall effect device - - - - and hall effect device comprising a doped active hall - effect - field

机译:掺杂有源霍尔效应器件的霍尔效应区域的方法以及包括掺杂的有源霍尔效应场的霍尔效应器件

摘要

A method for doping of an active hall - effect - area of a hall - effect - device in a semiconductor substrate, the formation of a first doping profile of a first dopant type in a first low field of the active hall - effect - area by means of a first implantation with a first implantation energy level, the formation of a second doping profile of the first dopant type in a second low field of the active region by means of a second implantation with a second implantation energy level, and the formation of a total - doping profile of the active hall - effect - area by tempering of the semiconductor substrate with the active hall - effect - area, which the first and the second doping profile has.
机译:一种用于在半导体衬底中掺杂有源霍耳效应器件的霍耳效应器件的方法,在有源霍耳效应的第一低场中形成第一掺杂剂类型的第一掺杂轮廓的方法是:具有第一注入能级的第一注入的方法,借助于具有第二注入能级的第二注入的方法,在有源区的第二低场中形成第一掺杂剂类型的第二掺杂分布,并且通过对具有有源霍耳效应面积的半导体衬底进行回火而获得的有源霍耳效应面积的总掺杂轮廓,第一和第二掺杂轮廓具有该总掺杂轮廓。

著录项

  • 公开/公告号DE102015204637A1

    专利类型

  • 公开/公告日2016-09-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;

    申请/专利号DE201510204637

  • 发明设计人 STEFAN KOLB;MARKUS ECKINGER;

    申请日2015-03-13

  • 分类号H01L43/14;H01L43/04;H01L43/06;H01L21/265;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 14:09:20

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