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Indium Tin Oxide Thin Films With Both Near-Infrared Transparency and Excellent Resistivity

机译:具有近红外透明性和出色电阻率的氧化铟锡薄膜

摘要

An indium tin oxide film containing by weight about 90% In2O3 and about 10% SnO2 is prepared using a low-energy deposition sputter process on a substrate. The indium tin oxide film thus obtained has a carrier concentration on the order of 1020/cm3 and a carrier mobility greater than 30 cm2/Vs. The low carrier concentration results in an increased transmission in the near infra-red region, while the high carrier mobility results in good conductive properties.
机译:使用低能量沉积制备包含约90%In 2 O 3 和约10%SnO 2 的铟锡氧化物薄膜在基板上进行溅射工艺。这样获得的铟锡氧化物膜的载流子浓度约为10 20 / cm 3 ,载流子迁移率大于30cm 2 / Vs。低载流子浓度导致在近红外区域的透射率增加,而高载流子迁移率导致良好的导电性能。

著录项

  • 公开/公告号US2017306470A1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NANOCO TECHNOLOGIES LTD.;

    申请/专利号US201715492185

  • 发明设计人 STUART STUBBS;

    申请日2017-04-20

  • 分类号C23C14/08;C23C14/34;H01L31/0224;H01L33/42;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 13:51:37

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