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System And Method For Functional Reconstruction Of Integrated Circuits From Layout Analysis Of Circuit Images

机译:从电路图像的布局分析到集成电路功能重构的系统和方法

摘要

A method for reverse engineering the layout structure of an integrated circuit includes providing an image of a layer of the integrated circuit; processing the image to identify differentiated regions; associating the differentiated regions; and deriving a functional relationship between the association of the differentiated regions.
机译:一种对集成电路的布局结构进行逆向工程的方法,包括提供集成电路层的图像;以及处理图像以识别差异区域;关联不同的区域;并推导不同区域之间的关联之间的功能关系。

著录项

  • 公开/公告号US2017323439A1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-11-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ROCCOR LLC;

    申请/专利号US201615148763

  • 申请日2016-05-06

  • 分类号G06T7;G06F17/50;G06K9/46;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 13:48:30

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