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SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING STUD PATTERNS THAT ARE ALIGNED AND MISALIGNED WITH CONTACT PATTERNS

机译:半导体设备具有与接触式图案对齐和错误对齐的螺柱图案

摘要

A semiconductor device includes an active region, a gate pattern on the active region, the active region including a source region at a first side of the gate pattern and a drain region at a second side of the gate pattern, a gate contact pattern on the gate pattern and a drain contact pattern on the drain region, and a gate stud pattern on the gate contact pattern and a drain stud pattern on the drain contact pattern. A distance between a gate contact axis passing through a center portion of the gate contact pattern and a drain contact axis passing through a center portion of the drain contact pattern is different from a distance between a gate stud axis passing through a center portion of the gate stud pattern and a drain stud axis passing through a center portion of the drain stud pattern.
机译:半导体器件包括有源区,在有源区上的栅极图案,有源区包括在栅极图案的第一侧上的源极区和在栅极图案的第二侧上的漏极区,在有源区上的栅极接触图案。在漏极区域上的栅极图案和漏极接触图案,在栅极接触图案上的栅极柱螺栓图案和在漏极接触图案上的漏极柱螺栓图案。穿过栅极接触图案的中心部分的栅极接触轴和穿过漏极接触图案的中心部分的漏极接触轴之间的距离不同于穿过栅极的中心部分的栅极柱头轴之间的距离。螺柱图案和穿过螺柱图案的中心部分的螺柱轴线。

著录项

  • 公开/公告号US2016343703A1

    专利类型

  • 公开/公告日2016-11-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BYUNGJOO GO;HONGSOO KIM;

    申请/专利号US201615002679

  • 发明设计人 BYUNGJOO GO;HONGSOO KIM;

    申请日2016-01-21

  • 分类号H01L27/088;H01L27/02;H01L29/417;H01L23/528;H01L29/423;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 13:46:37

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