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Detecting method of defects of line and demultiplexer, defect detecting device, and display panel including the defect detecting device

机译:线路和解复用器的缺陷检测方法,缺陷检测装置以及包括该缺陷检测装置的显示面板

摘要

PURPOSE: A device and method for detecting defects of a demultiplexer and a line, and a display panel comprising the same are provided to easily detect defects by using a gate signal.;CONSTITUTION: First to third direct current lines supply first to third direct voltages. A first switch(T11-T1a) is connected to the first to third direct current lines. The first switch transfers the direct voltage to the first data line by using a first gate signal. A second switch(T21-T2b) transfers the voltage to a second data line according to a second gate signal.;COPYRIGHT KIPO 2013
机译:目的:提供一种用于检测解复用器和线路的缺陷的装置和方法,以及包括该装置和方法的显示面板,以通过使用栅极信号容易地检测缺陷。组成:第一至第三直流线路提供第一至第三直流电压。第一开关(T11-T1a)连接到第一至第三直流线路。第一开关通过使用第一栅极信号将直流电压传输到第一数据线。第二个开关(T21-T2b)根据第二个栅极信号将电压传输到第二条数据线。; COPYRIGHT KIPO 2013

著录项

  • 公开/公告号EP2600627B1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-10-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG DISPLAY CO LTD;

    申请/专利号EP20120179991

  • 发明设计人 KA JI-HYUN;JEONG JIN-TAE;

    申请日2012-08-10

  • 分类号G09G3/3233;G09G3/3291;G09G3/00;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 13:20:20

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