机译:三维形状测量装置,涂层装置,三维形状测量装置中的反射构件调整方法以及用于调整三维形状测量装置中的反射角的辅助方法
公开/公告号JP2018084489A
专利类型
公开/公告日2018-05-31
原文格式PDF
申请/专利权人 ASAHI SUNAC CORP;
申请/专利号JP20160227666
发明设计人 NISHIO TATSUYA;
申请日2016-11-24
分类号G01B11/24;B05B12/08;B05B13/04;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 13:12:16