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Monte Carlo simulation for analyzing yield of an electric circuit

机译:蒙特卡洛仿真,用于分析电路的成品率

摘要

In a simulation system and method thereof, the simulation includes, when a function value for a nominal point (NP) of an input is a first value, running a first simulation on the input; and when the function value for the NP of the input is a second value different from the first value, running a second simulation on the input. Here, the running of the second simulation may include (a) setting a boundary of an input distribution for the second value as a first distribution value, (b) generating input samples within the set boundary of the input distribution, (c) obtaining a worst case point (WCP) for the input by performing machine learning on the generated input samples, and (d) repeatedly performing the steps (a) to (c) while shifting the boundary of the input distribution until the boundary of the input distribution reaches a minimum critical value.
机译:在模拟系统及其方法中,该模拟包括:当输入的标称点(NP)的函数值是第一值时,对该输入进行第一模拟;当输入的NP的函数值是不同于第一值的第二值时,对输入进行第二仿真。在此,第二模拟的运行可以包括(a)将第二值的输入分布的边界设置为第一分布值,(b)在输入分布的设置边界内生成输入样本,(c)获得通过对生成的输入样本执行机器学习来进行输入的最坏情况点(WCP),并且(d)重复执行步骤(a)至(c),同时移动输入分布的边界,直到输入分布的边界达到最小临界值。

著录项

  • 公开/公告号US9846753B2

    专利类型

  • 公开/公告日2017-12-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号US201414215577

  • 发明设计人 JIN-YOUNG LEE;CHANG-HO HAN;

    申请日2014-03-17

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 12:57:30

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