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INHERENTLY SELECTIVE PRECURSORS FOR DEPOSITION OF SECOND OR THIRD ROW TRANSITION METAL THIN FILMS

机译:用于沉积第二行或第三行过渡金属薄膜的固有选择性前兆

摘要

Inherently selective precursors for deposition of second or third row transition metal (e.g., tungsten or ruthenium) thin films are described. In an example, a ligand framework for second or third row transition metal complex formation includes a lithium complex.
机译:描述了用于沉积第二或第三行过渡金属(例如钨或钌)薄膜的固有选择性前体。在一个实例中,用于第二或第三行过渡金属配合物形成的配体骨架包括锂配合物。

著录项

  • 公开/公告号EP3310788A4

    专利类型

  • 公开/公告日2019-02-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INTEL CORPORATION;

    申请/专利号EP20150895814

  • 发明设计人 ROMERO PATRICIO E.;

    申请日2015-06-18

  • 分类号C23C16/18;C23C16/04;C07F1/02;H01L21/205;C07F1;H01L21/768;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 12:28:10

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