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抵抗変化素子と半導体装置および製造方法

机译:电阻变化元件和半导体器件及其制造方法

摘要

To provide a semiconductor device with resistance change element of metal deposition type, capable of suppressing a voltage required for switch operation and its variations.SOLUTION: The resistance change element includes: a resistance change film of metal deposition type; a first electrode for supplying metal ions to the resistance change film in contact with one surface of the resistance change film; a second electrode in contact with the other surface of the resistance change film.The first electrode has barrier metal at its outer periphery, and the barrier metal is in contact with the resistance change film through an insulator.SELECTED DRAWING: Figure 1
机译:为了提供一种具有金属沉积型的电阻变化元件的半导体器件,该半导体器件能够抑制开关操作及其变化所需的电压。第一电极,用于向与所述电阻变化膜的一个表面接触的所述电阻变化膜供应金属离子;第二电极与电阻变化膜的另一表面接触。第一电极在其外围具有阻挡层金属,阻挡层金属通过绝缘体与电阻变化膜接触。

著录项

  • 公开/公告号JP2019047003A

    专利类型

  • 公开/公告日2019-03-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC CORP;

    申请/专利号JP20170169790

  • 发明设计人 伴野 直樹;多田 宗弘;

    申请日2017-09-04

  • 分类号H01L21/8239;H01L27/105;H01L45/00;H01L49/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 12:23:44

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