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CAPACITY DETECTION CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE, INPUT DEVICE USING THE SAME, ELECTRONIC APPARATUS, AND CAPACITY DETECTION METHOD

机译:电容检测电路,半导体装置,使用相同的输入装置,电子设备和电容检测方法

摘要

To provide a capacity detection circuit with which it is possible to solve at least one of conventional problems.SOLUTION: A control signal generator 110 generates a control signal. A drive circuit 120 includes a push-pull type of output stage 122 and applies a drive voltage that corresponds to the control signal generated by the control signal generator 110 to a capacitance Cs. A current detection circuit 130 generates a detection current that is a replica of a current flowing in the output stage 122 of the drive circuit 120. An integration circuit 140 integrates the detection current and generates a detection voltage.SELECTED DRAWING: Figure 3
机译:为了提供一种能够解决传统问题中的至少一个问题的电容检测电路。解决方案:控制信号发生器110产生控制信号。驱动电路120包括推挽型输出级122,并且将与由控制信号生成器110生成的控制信号相对应的驱动电压施加至电容Cs。电流检测电路130产生检测电流,该电流是驱动电路120的输出级122中流动的电流的复制品。积分电路140对检测电流进行积分并产生检测电压。图3

著录项

  • 公开/公告号JP2019143998A

    专利类型

  • 公开/公告日2019-08-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ROHM CO LTD;

    申请/专利号JP20180025705

  • 发明设计人 SHIMADA YUJI;

    申请日2018-02-16

  • 分类号G01R27/26;G06F3/041;G06F3/044;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 12:23:33

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