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Method for manufacturing silicon germanium epitaxial chip and silicon germanium epitaxial chip

机译:硅锗外延芯片的制造方法及硅锗外延芯片

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing a silicon germanium epitaxial wafer capable of reducing density of threading dislocation and a silicon germanium epitaxial wafer obtainable by the method.SOLUTION: A method for manufacturing a silicon germanium epitaxial wafer includes: a first step S10 of forming a buffer layer implanted with first ions on a surface of a silicon wafer: a second step S20 of forming one or more epitaxial layers implanted with second ions on the buffer layer; and a third step S30 of forming a silicon germanium epitaxial layer on the uppermost layer of the epitaxial layer.SELECTED DRAWING: Figure 1
机译:解决的问题:提供一种能够降低穿线位错密度的硅锗外延晶片的制造方法以及通过该方法可获得的硅锗外延晶片。解决方案:硅锗外延晶片的制造方法包括:第一步S10,在硅片表面上形成注入有第一离子的缓冲层;第二步骤S20:在该缓冲层上形成一个或多个注入有第二离子的外延层;第三步S30是在外延层的最上层上形成硅锗外延层。

著录项

  • 公开/公告号JP6493197B2

    专利类型

  • 公开/公告日2019-04-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社SUMCO;

    申请/专利号JP20150247938

  • 发明设计人 古賀 祥泰;

    申请日2015-12-18

  • 分类号H01L21/205;C30B31/22;H01L21/20;H01L21/265;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 12:18:56

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