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BJT strong-ARM A Bipolar Junction Transistor BJT Control Strong-ARM Amplifier

机译:BJT强ARM A双极结型晶体管BJT控制强ARM放大器

摘要

The present invention provides a strong-ARM latch amplification circuit for generating a sensing detection voltage. A block of the strong-ARM latch amplification circuit comprises a strong-ARM amplification unit (700) for generating a sensing detection voltage, a CLK generation unit (701), a sensor unit (702), and a surge current protection unit (712). An S_OUT signal input transistor (706) is a transistor element for inputting an S_OUT signal of the sensor unit (702). An S_REF signal input sensing detection voltage generation transistor (707) is the transistor element for inputting an S_REF signal of the sensor unit (702). The S_REF signal input sensing detection voltage generation transistor (707) includes a detection resistor (720) and a BJT transistor element for inputting an S_REF signal of the sensor unit (702).
机译:本发明提供了一种用于产生感测检测电压的强ARM锁存器放大电路。强ARM锁存放大电路的模块包括用于产生感测检测电压的强ARM放大单元(700),CLK生成单元(701),传感器单元(702)和浪涌电流保护单元(712)。 )。 S_OUT信号输入晶体管(706)是用于输入传感器单元(702)的S_OUT信号的晶体管元件。 S_REF信号输入感测检测电压生成晶体管(707)是用于输入传感器单元(702)的S_REF信号的晶体管元件。 S_REF信号输入感测检测电压生成晶体管(707)包括检测电阻器(720)和用于输入传感器单元(702)的S_REF信号的BJT晶体管元件。

著录项

  • 公开/公告号KR20190096248A

    专利类型

  • 公开/公告日2019-08-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 EFRAM;

    申请/专利号KR20180015954

  • 发明设计人 KANG HEE BOK;

    申请日2018-02-08

  • 分类号H03F3/45;H03F1/02;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 11:50:07

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