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Calibrating a tester or tester using ESD protection circuits

机译:使用ESD保护电路校准测试仪或测试仪

摘要

An apparatus comprising: a circuit element requiring calibration; a calibration circuit for use in calibrating the circuit element; a clamp diode electrically connectable in a first path having the calibration circuit and being electrically connected connectable is in a second path that excludes the calibration circuit, the first path being for electrically connecting the calibration circuit and the circuit element, and the second path being for use in protecting the device from electrostatic discharge; and a switching circuit for switching the clamp diode between the first path and the second path.
机译:一种设备,包括:需要校准的电路元件;以及用于校准电路元件的校准电路;在不具有校准电路的第二路径中,可在具有校准电路的第一路径中电连接并且可电连接的钳位二极管在第二路径中,第一路径用于电连接校准电路和电路元件,第二路径用于用于保护设备免受静电释放;开关电路,用于在第一路径和第二路径之间切换钳位二极管。

著录项

  • 公开/公告号DE112008000865B4

    专利类型

  • 公开/公告日2019-10-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TERADYNE INC.;

    申请/专利号DE20081100865T

  • 发明设计人 STEVEN L. HAUPTMAN;

    申请日2008-03-28

  • 分类号G01R35;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 11:45:53

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