首页> 外国专利> SELF-TEST CIRCUIT AND METHOD OF VERIFYING THE INTEGRITY OF A SIGNAL ALONG A SIGNAL PATH

SELF-TEST CIRCUIT AND METHOD OF VERIFYING THE INTEGRITY OF A SIGNAL ALONG A SIGNAL PATH

机译:自测试电路和验证沿信号路径的信号完整性的方法

摘要

Examples relate to a self test circuit. The self-test circuit includes input circuits; test circuits; and a circuit to be tested, coupled between the input circuits and the test circuits and comprising at least one piezoelectric crystal. The input circuits are configured to generate and transfer a predefined electrical signal comprising at least one sinusoidal signal through at least the piezoelectric crystal of the circuit under test to generate an output signal. The test circuits are configured to analyze the output signal.
机译:示例涉及自检电路。自检电路包括输入电路;测试电路;待测试电路,耦合在输入电路和测试电路之间,并包括至少一个压电晶体。输入电路被配置为通过被测电路的至少压电晶体产生并传送包括至少一个正弦信号的预定电信号,以产生输出信号。测试电路被配置为分析输出信号。

著录项

  • 公开/公告号FR3076349A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-07-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 AKTIEBOLAGET SKF;

    申请/专利号FR20180060365

  • 发明设计人 JULIAN FRANCHITTI;

    申请日2018-11-09

  • 分类号G01M13/04;G01H11/08;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-21 11:43:46

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号