首页> 外国专利> A self-test circuit and method for checking the integrity of a signal through a signal path

A self-test circuit and method for checking the integrity of a signal through a signal path

机译:用于通过信号路径检查信号完整性的自测电路和方法

摘要

Examples provide a self-test circuit. The self-test circuit includes input circuitry; Test circuitry; and a circuit under test coupled between the input and test circuitry and including at least one piezoelectric crystal. The input circuitry is configured to transmit a predefined electrical signal having at least one sinusoidal signal through at least the piezoelectric crystal of the circuit under test to produce an output signal. The test circuitry is configured to analyze the output signal.
机译:示例提供了一个自测电路。自检电路包括输入电路;测试电路;被测电路,耦合在输入和测试电路之间,并包括至少一个压电晶体。输入电路被配置为通过被测电路的至少压电晶体传输具有至少一个正弦信号的预定电信号,以产生输出信号。测试电路被配置为分析输出信号。

著录项

  • 公开/公告号DE102018219594A1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-06-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 AKTIEBOLAGET SKF;

    申请/专利号DE201810219594

  • 发明设计人 JULIAN FRANCHITTI;

    申请日2018-11-15

  • 分类号H01L41/22;H03H9/02;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 11:44:27

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号