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HORIZONTAL GATE-ALL-AROUND (GAA) FIELD EFFECT TRANSISTOR (FET) FOR COMPLEMENTARY METAL OXIDE SEMICONDUCTOR (CMOS) INTEGRATION

机译:用于互补金属氧化物半导体(CMOS)集成的水平全能栅极(GAA)场效应晶体管(FET)

摘要

A horizontal gate-all-around (GAA) field effect transistor (FET) is described. The horizontal GAA FET includes a substrate as well as a shallow trench isolation (STI) region on the substrate. The horizontal GAA FET includes a first nano-sheet structure on the substrate and extending through the STI region. The first nano-sheet structure includes a first drain/source region stacked on a first source/drain region. The first nano-sheet structure also includes a first channel region between the first drain/source region and the first source/drain region. The horizontal GAA FET also includes a first gate on the STI region and horizontally surrounding the first channel region on four sides.
机译:描述了水平环绕栅(GAA)场效应晶体管(FET)。水平GAA FET包括衬底以及衬底上的浅沟槽隔离(STI)区域。所述水平GAA FET包括在衬底上并延伸穿过STI区域的第一纳米片结构。第一纳米片结构包括堆叠在第一源极/漏极区域上的第一漏极/源极区域。第一纳米片结构还包括在第一漏极/源极区和第一源极/漏极区之间的第一沟道区。水平GAA FET还包括在STI区域上的第一栅极,并且在四个侧面上水平围绕第一沟道区域。

著录项

  • 公开/公告号US2020185384A1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-06-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 QUALCOMM INCORPORATED;

    申请/专利号US201816216883

  • 发明设计人 XIA LI;BIN YANG;GENGMING TAO;

    申请日2018-12-11

  • 分类号H01L27/092;H01L29/78;H01L29/08;H01L29/66;H01L29/06;H01L29/10;H01L21/033;H01L21/8238;H01L29/417;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 11:27:19

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