首页> 中国专利> 一种聚合物薄膜中单分子链扩散运动轨迹的测定方法

一种聚合物薄膜中单分子链扩散运动轨迹的测定方法

摘要

本发明提供了一种聚合物薄膜中单分子链扩散运动轨迹的测定方法。该方法包括如下步骤:1)将荧光探针分子连接到待测聚合物的长链末端得到荧光标记聚合物;2)将所述荧光标记聚合物掺杂于未标记的所述待测聚合物中并制备成聚合物薄膜样品;3)将连续激光照射于所述样品上,得到所述荧光标记聚合物发射的荧光;4)将所述荧光进行聚焦成像得到所述荧光标记聚合物的连续单分子图像;将所述荧光标记聚合物随不同时间的连续单分子图像连接起来即得所述聚合物薄膜中单分子链扩散运动轨迹。本发明的探测方法,运用单分子荧光成像技术,具有单分子级别的灵敏度。

著录项

  • 公开/公告号CN102183497B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-07-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院化学研究所;

    申请/专利号CN201110038632.3

  • 发明设计人 陈锐;赵江;

    申请日2011-02-15

  • 分类号G01N21/64(20060101);

  • 代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人关畅

  • 地址 100191 北京市海淀区中关村北一街2号

  • 入库时间 2022-08-23 09:10:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-07-04

    授权

    授权

  • 2011-11-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20110215

    实质审查的生效

  • 2011-09-14

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号