具有高级测试模式的半导体存储装置及测试方法

摘要

一种用以测试一半导体存储装置的操作的装置，具有在压缩测试模式中的多个排，包括一内部地址产生器，用以接收一外部排地址以及响应一排插置测试信号而产生内部排地址；一读取操作测试模块用以接收内部排地址以及测试该半导体存储装置的一读取操作以响应排插置测试信号；以及一写入操作测试模块，用以接收内部排地址与测试半导体存储装置的写入操作。