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【2h】

Физические основы методов испытания приборов на основе полупроводниковых материалов с глубокими центрами

机译：基于具有深中心的半导体材料的器件的测试方法的物理基础

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Тявловский К. Л.; Шадурская Л. И.; Яржембицкая Н. В.;
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年度 2014
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