首页> 外文OA文献 >Физические основы методов испытания приборов на основе полупроводниковых материалов с глубокими центрами
【2h】

Физические основы методов испытания приборов на основе полупроводниковых материалов с глубокими центрами

机译:基于具有深中心的半导体材料的器件的测试方法的物理基础

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号