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谐波法微/纳米薄膜热物性测试方法

摘要

本发明公开了一种谐波法微/纳米薄膜热物性测试方法,该方法利用直接沉积在待测薄膜/衬底试样结构上的微型金属探测器探测薄膜结构各层热物性参数。测试时,薄膜/衬底试样结构平行放置于恒温真空腔的内腔底;温度调节系统的热电偶一端插于内腔中,另一端电连接温度控制器,TEC加热/冷却器紧贴内腔置于保温层中,并由温度控制器控制启动和停止;抽真空系统外接内腔;谐波测量单元与微型金属探测器电连接,用谐波法测量相关频率范围内微型金属探测器中间段金属带两端的基波电压实部及三次谐波电压实部,根据谐波法测试原理拟合衬底表面单/多层微/纳米薄膜结构的导热系数和热扩散率参数。

著录项

  • 公开/公告号CN101907589B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-06-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院工程热物理研究所;

    申请/专利号CN201010218390.1

  • 发明设计人 郑兴华;邱琳;苏国萍;唐大伟;

    申请日2010-06-25

  • 分类号G01N25/20(20060101);G01N25/18(20060101);C23C14/35(20060101);C23C14/14(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周国城

  • 地址 100190 北京市北四环西路11号

  • 入库时间 2022-08-23 09:10:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-06-27

    授权

    授权

  • 2011-01-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 25/20 申请日:20100625

    实质审查的生效

  • 2010-12-08

    公开

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