双波长飞秒激光抽运－探测法测量纳米薄膜及界面热物性

摘要

建立了用来研究时间－空间微尺度传热现象的飞秒激光抽运－探测系统。与常规的单波长飞秒激光抽运探测系统相比，双波长的光路设计方案可以大幅提高信噪比，并使共线的聚焦光路更易实现，从而提高了测量的准确度。我们采用这种先进的测量方法测量了SiO2 纳米薄膜的热导率及其与Si 之间的界面热导。从测量结果中发现在40-860nm 厚度区间，SiO2 纳米薄膜的热导率没有明显的尺度效应。