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一种基于投影莫尔原理的BGA共面度测量系统

摘要

本发明公开了一种基于投影莫尔原理的共面度测量系统,包括冷光源(1),准直透镜(3),CCD摄像机(2,4),LCD面板(5),投影透镜(6),光学平台(7),高精度移动台(8)和计算机(9)。所述LCD面板(5)上显示通过所述计算机(9)产生的条纹图案,所述冷光源(1)发出的光经所述准直透镜(3)后照射到所述LCD面板(5)上,将显示在所述LCD面板(5)上的条纹图案投影到被装载在高精度移动台(8)上的参考平面或者待测物表面上,所述CCD摄像机为两个,对称设置于LCD面板(5)两侧。本发明的测量面积和测量精度都得到很大提高,能够满足当今封装测试中所需要的大面积、高精度实时快速测量的要求。

著录项

  • 公开/公告号CN102052907B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201010548877.6

  • 申请日2010-11-18

  • 分类号

  • 代理机构华中科技大学专利中心;

  • 代理人朱仁玲

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 09:10:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-05-23

    授权

    授权

  • 2011-06-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20101118

    实质审查的生效

  • 2011-05-11

    公开

    公开

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