),系统测量精度可达40μm.'/> 变光源相移投影莫尔三维轮廓测量系统-李根乾罗子健王学礼谭玉山-中文会议【掌桥科研】
首页> 中文会议>2000年中国博士后学术大会 >变光源相移投影莫尔三维轮廓测量系统

变光源相移投影莫尔三维轮廓测量系统

摘要

本文首先利用计算机实时控制变光源相移技术,设计了一种全新的投影莫尔三维轮廓投影成像测试系统.去除了传统机械式相移结构,大大提高了系统测试速度(全场测量:4~8Sec.).采用垂直投影,双CCD倾斜成像机构,光强照明均匀,测量面积大(最大可为350×350mm<'2>),系统测量精度可达40μm.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号