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膜沉积方法和半导体器件的制造方法

摘要

一种膜沉积方法,包括以下步骤:将含有聚硅烷化合物的溶液涂覆于基板上,形成涂层膜,然后在惰性气氛下进行第一热处理,由此使所述涂层膜形成为硅膜;在所述硅膜上形成含有聚硅烷化合物的涂层膜,然后在惰性气氛或者还原气氛下进行第二热处理,由此使所述涂层膜形成为氧化硅前体膜;和在氧化气氛下进行第三热处理,由此使所述氧化硅前体膜形成为氧化硅膜,并且同时使所述硅膜致密化。

著录项

  • 公开/公告号CN101800176B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 索尼公司;

    申请/专利号CN201010105598.2

  • 申请日2010-01-28

  • 分类号H01L21/316(20060101);H01L21/336(20060101);C23C20/08(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人封新琴

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-22

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/316 授权公告日:20120502 终止日期:20160128 申请日:20100128

    专利权的终止

  • 2012-05-02

    授权

    授权

  • 2010-09-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/316 申请日:20100128

    实质审查的生效

  • 2010-08-11

    公开

    公开

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