首页> 中国专利> 微观元素多参数分析设备和方法

微观元素多参数分析设备和方法

摘要

本发明提出了一种分析微观元素的设备(DA),这种设备包括:第一,需分析的微观元素的测量空间(CM);第二,至少一个提供在测量空间(CM)内联合在一起的射线的光源(S),所述射线具有至少两个不同的分析波长,用来与测量空间(CM)内的微观元素交互作用,以形成交互作用射线;第三,在测量空间(CM)的上游用不同的码对射线进行编码的编码装置(M);第四,对荧光和/或扩散的交互作用射线根据它们的波长进行选择性滤波的滤光装置(FO);第五,将来自测量空间(CM)的交互作用射线的至少一部分变换成电信号的检测装置(DE,DF);以及第六,包括对电信号进行解码的解码装置(DRE,DRE)的分析装置(MA),用来确定表示所分析的微观元素的数据。

著录项

  • 公开/公告号CN101194159B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 奥里巴ABX股份有限公司(简单形式);

    申请/专利号CN200680020823.4

  • 发明设计人 菲利普·纳瑞;迪迪尔·勒菲弗;

    申请日2006-04-14

  • 分类号G01N15/02(20060101);

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人郭思宇

  • 地址 法国蒙彼利埃

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-05-02

    授权

    授权

  • 2008-07-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-04

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号