首页> 中国专利> 确定检测器清单的不均匀性的方法

确定检测器清单的不均匀性的方法

摘要

使得清单的每一个检测器经受完全相同的平场曝光,以便在每一个所述检测器中产生辐射图像,根据所述辐射图像确定总体场分布并且在所述图像中抵消所述场分布,接下来计算所述不均匀性。

著录项

  • 公开/公告号CN101271162B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-04-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 爱克发医疗保健公司;

    申请/专利号CN200710112104.1

  • 发明设计人 M·克勒森斯;W·埃克塞尔曼斯;

    申请日2007-06-18

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人刘杰

  • 地址 比利时莫策尔

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-21

    专利权的转移 IPC(主分类):G01T 1/16 登记生效日:20190505 变更前: 变更后: 申请日:20070618

    专利申请权、专利权的转移

  • 2012-04-18

    授权

    授权

  • 2012-04-18

    授权

    授权

  • 2009-08-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-08-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-09-24

    公开

    公开

  • 2008-09-24

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号