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盘片层数判别方法

摘要

一种盘片层数判别方法,首先依序调整至两数据层的标准SA值;使焦点穿越盘片进行聚焦行程;记录该聚焦行程中最大振幅的聚焦误差信号;检查各聚焦行程所记录最大振幅的聚焦误差信号相等,则判别为双数据层盘片,不相等则判别为单数据层盘片。

著录项

  • 公开/公告号CN101826353B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-02-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广明光电股份有限公司;

    申请/专利号CN200910004641.3

  • 发明设计人 徐嘉星;谢明宗;萧亦隆;

    申请日2009-03-02

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人史新宏

  • 地址 中国台湾桃园县

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-04-16

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G11B 19/12 授权公告日:20120229 终止日期:20130302 申请日:20090302

    专利权的终止

  • 2012-02-29

    授权

    授权

  • 2010-10-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11B 19/12 申请日:20090302

    实质审查的生效

  • 2010-09-08

    公开

    公开

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