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基于二维细分法的微小光斑强度分布测量方法

摘要

基于二维细分法的微小光斑强度分布测量方法,它涉及一种微小光斑强度分布的测量方法,它解决了目前无法对能量分布不均匀或者尺寸很小的光斑进行强度分布测量的问题。该测量方法将入射光斑完全照射到CCD探测器的光敏探测面的一个像元内,通过蛇形扫描的方式,记录各个扫描状态的灰度图像,通过计算可最终获得入射光光斑的强度分布。本发明能够对能量分布不均匀或者尺寸很小的光斑的强度分布进行直接测量,适用于微小光斑测量领域。

著录项

  • 公开/公告号CN101907490B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201010261214.6

  • 申请日2010-08-24

  • 分类号

  • 代理机构哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人张宏威

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-10-16

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 1/42 授权公告日:20120208 终止日期:20120824 申请日:20100824

    专利权的终止

  • 2012-02-08

    授权

    授权

  • 2011-01-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 1/42 申请日:20100824

    实质审查的生效

  • 2010-12-08

    公开

    公开

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