首页> 中国专利> 基于哈特曼-夏克传感器的透镜参数测试系统及方法

基于哈特曼-夏克传感器的透镜参数测试系统及方法

摘要

本发明涉及一种基于哈特曼-夏克传感器的透镜参数测试系统及方法,通过对被测透镜入射一束参考光,使用波前传感器对出射被测透镜的光波前加以探测,重构光波前并计算波前的汇聚/发散中心从而获得正/负透镜焦距、焦点与主面位置;使用不同波长的入射光入射被测透镜,可获得不同波长的焦距、焦点与主面位置;对重构并还原的波前进行波前分析,根据波前叠加原理,使用最小二乘法将测得的波前展开为像差基元的叠加形式,使得每个像差基元都对应有一定大小的权重因子,讨论权重因子的分布可得到透镜像差的分布情况。可以全面地考察透镜的焦距参数与像差品质,结合波长可调的激光器,还可实现对色差的测量,考察不同波长情况下透镜焦距与像差分布的变化情况。

著录项

  • 公开/公告号CN101963543B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-03-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN201010256584.0

  • 申请日2010-08-19

  • 分类号G01M11/02(20060101);G01J9/00(20060101);

  • 代理机构31001 上海申汇专利代理有限公司;

  • 代理人吴宝根

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-10-14

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01M 11/02 授权公告日:20120307 终止日期:20140819 申请日:20100819

    专利权的终止

  • 2012-03-07

    授权

    授权

  • 2011-07-20

    著录事项变更 IPC(主分类):G01M 11/02 变更前: 变更后: 申请日:20100819

    著录事项变更

  • 2011-03-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20100819

    实质审查的生效

  • 2011-02-02

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号