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具有对称性和自校准的垂直入射薄膜反射率计

摘要

本发明公开一种具有对称性和自校准的垂直入射薄膜反射率计,其两个照明系统和两个光收集系统分别对称地置于样品台的两侧;光源发射的光线依次经由其中一个照明系统的反射棱镜的一个反射面、第一凹面镜、反射棱镜的另一个反射面反射后由分束镜透射到置于样品台的样品上,分别形成透射光和反射光;样品的反射光返回该照明系统的分束镜上,光线由该分束镜反射后由其中一个光收集系统的第一反射镜接收并依次由第二凹面镜、第二反射镜反射到单色仪中,后进入光电系统;另一个照明系统的分束镜接收样品的透射光并反射到另一个光收集系统的第一反射镜后再依次由第二凹面镜、第二反射镜反射到单色仪,后进入光电系统。本发明可消去光学系统的不对称误差。

著录项

  • 公开/公告号CN101915660B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州科汀光学技术有限公司;

    申请/专利号CN201010251597.9

  • 申请日2010-08-10

  • 分类号G01M11/02(20060101);G01J1/44(20060101);G01J1/04(20060101);G01J1/06(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人陈昱彤

  • 地址 311100 浙江省杭州市余杭经济开发区天荷路21号

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-01-11

    授权

    授权

  • 2011-02-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20100810

    实质审查的生效

  • 2010-12-15

    公开

    公开

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