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仪器化纳米压入测试材料杨氏模量的方法

摘要

本发明公开了一种仪器化纳米压入测试材料杨氏模量的方法,该方法使用仪器化纳米压入加载功、卸载功以及名义硬度来测定被测试材料的杨氏模量。与现有技术相比,本发明的测试方法具有以下优点:1)不需要考虑压头与被压材料间的接触深度和接触面积,避免了现有技术在这方面引入的误差;2)不需要利用卸载曲线的初始卸载斜率,避免了对测试条件和数据处理方式敏感的导数的使用;3)测试原理更加科学;4)测试精度高。

著录项

  • 公开/公告号CN101788420B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 马德军;

    申请/专利号CN201010107032.3

  • 发明设计人 马德军;

    申请日2010-02-09

  • 分类号

  • 代理机构北京万科园知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人张亚军

  • 地址 100069 北京市右安门外玉林小区悦璟轩1-801

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-29

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 3/00 授权公告日:20111102 终止日期:20160209 申请日:20100209

    专利权的终止

  • 2011-11-02

    授权

    授权

  • 2010-10-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 3/00 申请日:20100209

    实质审查的生效

  • 2010-07-28

    公开

    公开

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