配色函数,计算出其色度坐标后,由分区间判断算法和变步长查询算法计算出其准确的主波长值。本发明减少了主波长计算中的运算量,提高了工作效率,用于发光二极管色度参数的在线测量和分选。"/>
公开/公告号CN101566505B
专利类型发明专利
公开/公告日2011-10-12
原文格式PDF
申请/专利权人 中科院广州电子技术有限公司;
申请/专利号CN200910038136.0
申请日2009-03-24
分类号G01J9/00(20060101);G01J3/46(20060101);
代理机构44239 广州中瀚专利商标事务所;
代理人黄洋;盖军
地址 510070 广东省广州市越秀区先烈中路100号大院23栋
入库时间 2022-08-23 09:07:49
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-10-12
授权
授权
2009-12-23
实质审查的生效
实质审查的生效
2009-10-28
公开
公开
机译: 一种超导薄膜的表面电阻的测量方法,一种超导薄膜的表面电阻的测量方法,一种超薄薄膜共振电路的Q值的测量方法,一种用于超导薄膜的超导体的表面电阻的测量方法以及一种方法
机译: 一种远程冰厚度测量方法,一种远程冰强度测量方法,一种远程测量方法,一种远程冰厚度测量设备,一种远程冰强度测量设备以及一种远程测量机构
机译: 发光二极管结温度测量装置,发光二极管结温度测量方法,发光二极管结温度测量程序和光照射装置