一种可提高缺陷检验可靠性的方法

摘要

本发明涉及一种可提高缺陷检验可靠性的方法。现有的掩膜检验机台上仅有少数几种缺陷检验设定，其很难适合具有多样图形的掩膜，故难以确保每一经该检验机台检验的掩膜上的缺陷均被发现。本发明的方法首先在每一进行缺陷检验的掩膜的非图形区域上制作一标准缺陷单元；接着存储该标准缺陷单元对应的基准图形及基本缺陷捕获图形；然后在该检验机台上检验该掩膜，且测得该标准缺陷单元的图形；之后将所测得的标准缺陷单元的图形与其基准图形进行对比来得到该标准缺陷单元的实际缺陷捕获图形；最后判断该实际缺陷捕获图形是否完全包括该基本缺陷捕获图形并依据判断结果决定是否继续进行缺陷检验。采用本发明的所提供的方法能提高缺陷检验的可靠性。