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基于射线衰减能量场的无损检测缺陷提取、识别方法

摘要

基于射线衰减能量场的无损检测缺陷提取、识别方法,首先,根据射线检测以及数字成像建立底片图像灰度与衰减能量场分布之间的关系,从射线底片图像中获取缺陷边界;然后,基于射线衰减能量场对所述缺陷提取方法得到的缺陷进行类型识别;最后,根据能量衰减原理,对所述缺陷类型识别方法得到的缺陷进行体积测量。由于本发明利用射线能量穿透不同材质所表现的衰减特征,建立射线能量衰减特征与底片图像灰度的对应规律,利用计算机对灰度图像的解析度远远超过人眼的优势,从而实现产品零部件缺陷的自动提取、识别以及三维体积测量。

著录项

  • 公开/公告号CN101201329B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-06-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安交通大学;

    申请/专利号CN200710018884.3

  • 申请日2007-10-16

  • 分类号G01N23/18(20060101);G06T7/40(20060101);G06T7/60(20060101);

  • 代理机构61200 西安通大专利代理有限责任公司;

  • 代理人张震国

  • 地址 710049 陕西省西安市咸宁路28号

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-12-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 23/18 授权公告日:20110622 终止日期:20131016 申请日:20071016

    专利权的终止

  • 2011-06-22

    授权

    授权

  • 2008-08-13

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-18

    公开

    公开

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