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利用隧道磁阻效应的半导体存储器及其制造方法

摘要

本发明的一个实施例,具备:根据电阻值的变化存储第1状态或第2状态的多个第1存储器件,上述第1存储器件分别具有一方端部和另一方端部,上述第1存储器件互相并列配置;分别连接到多个上述第1存储器件的上述一方端部的第1布线;与上述第1布线平行,分别连接到多个上述第1存储器件的上述另一方端部的第2布线;以及根据从上述第1布线或上述第2布线的一方,通过上述第1存储器件向上述第1布线或上述第2布线的另一方流过的电流,读出存储于上述第1存储器件的上述第1或第2状态。

著录项

  • 公开/公告号CN1345091B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-12-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社东芝;

    申请/专利号CN01141215.1

  • 发明设计人 细谷启司;

    申请日2001-09-28

  • 分类号H01L27/04(20060101);H01L21/82(20060101);G11C11/14(20060101);

  • 代理机构11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人杜日新

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 09:05:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-11-26

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 27/04 授权公告日:20101222 终止日期:20130928 申请日:20010928

    专利权的终止

  • 2010-12-22

    授权

    授权

  • 2002-04-17

    公开

    公开

  • 2002-02-20

    实质审查的生效

    实质审查的生效

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