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描图系统及方法、曝光参数计算装置及方法、基板制造法

摘要

本发明提供一种描图系统,从而在描图处理中,不必根据know-how的知识的设定而形成适当的描图图案。根据预设的发光长度,根据二个式子而算出曝光动作间距(Epm)及扫瞄速度(Vm)。然后,在各种曝光量与发光长度以及与其对应的扫瞄速度与曝光动作间距中,对应于所选择的曝光量及发光长度而决定扫瞄速度及曝光动作间距,并将其作为曝光参数而在描图处理中做设定。

著录项

  • 公开/公告号CN101082781B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-01-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社ORC制作所;

    申请/专利号CN200710104680.1

  • 发明设计人 鹫山裕之;

    申请日2007-05-29

  • 分类号

  • 代理机构北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄纶伟

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-01-19

    授权

    授权

  • 2009-06-03

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-12-05

    公开

    公开

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