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温度或厚度的测量装置、测量方法、测量系统、控制系统和控制方法

摘要

本发明提供一种温度/厚度测量装置,减轻装置安装的麻烦程度,不在各测量对象物上形成用于通过测量光的孔就可一次测量多个测量对象物的温度或厚度。包括:照射具有透过各测量对象物并反射的波长的光的光源、将来自光源的光分离为测量光和参照光的分离器、用于反射来自分离器的参照光的参照光反射单元(例如参照镜)、用于改变从参照光反射单元反射的参照光的光路长度的光路长度改变单元(例如驱动参照镜的驱动单元)、用于测量将来自分离器的参照光向参照光反射单元照射时从参照光反射单元反射的参照光与将来自分离器的测量光向多个测量对象物按照透过各测量对象物的方式加以照射时从各测量对象物反射的各测量光的光的干涉的光接收单元。

著录项

  • 公开/公告号CN1804567B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-12-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东京毅力科创株式会社;

    申请/专利号CN200610001281.8

  • 发明设计人 铃木智博;舆水地盐;

    申请日2006-01-12

  • 分类号

  • 代理机构北京尚诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人龙淳

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2022-08-23 09:05:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-06

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/06 授权公告日:20101208 终止日期:20170112 申请日:20060112

    专利权的终止

  • 2010-12-08

    授权

    授权

  • 2010-12-08

    授权

    授权

  • 2006-09-13

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-09-13

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-07-19

    公开

    公开

  • 2006-07-19

    公开

    公开

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