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一种利用改变激励模式来实现不同方式电磁检测的方法

摘要

本发明公开了一种利用改变激励模式来实现不同方式电磁检测的方法,是通过对同一个传感器施加以不同的激励模式,涡流检测时向传感器施加正弦波激励,漏磁检测时向传感器施加方波激励,磁记忆检测时向传感器施加高占空比的脉冲激励,并针对不同激励模式所获取的传感信号进行不同的分析处理,从而获得不同的检测参量,实现了既可以根据不同的被测构件需要分别实现单一的涡流检测或漏磁检测或磁记忆检测,也可以针对同一被测构件的需要采用分时检测的方式来取得涡流检测、漏磁检测、磁记忆检测的检测参量的目的,从而给人们的使用带来了极大的方便,并可极大地降低检测仪器的制作成本。

著录项

  • 公开/公告号CN101281168B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 林俊明;

    申请/专利号CN200810070765.7

  • 发明设计人 林俊明;

    申请日2008-03-13

  • 分类号G01N27/82(20060101);

  • 代理机构35204 厦门市首创君合专利事务所有限公司;

  • 代理人李雁翔;连耀忠

  • 地址 361004 福建省厦门市湖滨南路57号金源大厦19楼A爱德森(厦门)电子有限公司

  • 入库时间 2022-08-23 09:05:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-12-01

    授权

    授权

  • 2008-12-03

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-10-08

    公开

    公开

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