首页> 中国专利> 在硅和有机前驱物的PECVD工艺中减少气相反应以沉积无缺陷起始层方法

在硅和有机前驱物的PECVD工艺中减少气相反应以沉积无缺陷起始层方法

摘要

通过在具有偏压电极的处理腔室内设置衬底,以及流入处理腔室一流速的一种或多种有机硅化合物和一流速的一种或多种氧化气体的混合物以通过将RF功率施加于电极而沉积起始层,提供一种沉积低介电常数膜的方法。然后递增有机硅化合物的流速到最终流速以沉积第一过渡层,在其上引入一种或多种孔原物化合物以及在沉积第二过渡层时孔原物化合物的流速递增至最终沉积速度。然后,通过流入最终流速的孔原物和有机硅直到RF功率关闭,沉积孔原物掺杂的硅氧化物层。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-09-02

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):C23C 16/40 授权公告日:20101215 终止日期:20140709 申请日:20070709

    专利权的终止

  • 2012-01-18

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):C23C 16/40 变更前: 变更后: 申请日:20070709

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2010-12-15

    授权

    授权

  • 2008-03-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-01-23

    公开

    公开

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