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应用于连续性侧向长晶技术的掩膜以及激光结晶方法

摘要

本发明提供一种应用于连续性侧向长晶技术的掩膜以及激光结晶方法。掩膜包含第一透光单元以及第二透光单元。第一透光单元具有多个圆形透光区域。第二透光单元设置于第一透光单元侧边。第二透光单元具有多个多边形遮光区域。多边形遮光区域与第一透光单元的圆形透光区域一对一对应设置,且每一多边形遮光区域的对角线长度小于每一圆形透光区域的直径。方法步骤包含使用激光透过上述掩膜于基板上产生具有第二结晶单元及与第一透光单元对应的第一结晶单元、移动掩膜使第一透光单元移动至与相邻的第二结晶单元对应、以及使用激光透过掩膜于基板上产生第二结晶区域。

著录项

  • 公开/公告号CN101221902B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-11-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 友达光电股份有限公司;

    申请/专利号CN200810005717.X

  • 发明设计人 孙铭伟;

    申请日2008-02-03

  • 分类号H01L21/20(20060101);H01L21/268(20060101);H01L21/336(20060101);H01L21/77(20060101);H01L21/84(20060101);B23K26/06(20060101);G03F1/14(20060101);

  • 代理机构11127 北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人任默闻

  • 地址 中国台湾新竹市

  • 入库时间 2022-08-23 09:05:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-11-24

    授权

    授权

  • 2008-09-10

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-07-16

    公开

    公开

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