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直接接合电子学、光学或光电子学使用的两个基板的方法

摘要

本发明涉及一种直接接合用在电子学、光学或光电子学中的两个基板(1、2)的正面(11、21)的方法,所述两个基板中的至少一个基板包括在该基板的正面(11、21)上或在该正面附近延伸的半导体材料层(1、13、2、20、23)。所述方法的特征在于其包括以下步骤:至少使所述包括半导体的基板的所述正面(11、21)、或者如果所述两个基板都包括半导体的话则使所述两个基板的所述正面(11、21)中的至少一个正面,在包含氢气和/或氩气的气体环境中在900℃至1200℃范围内的温度下进行持续时间至少为30秒的接合前预备热处理;以及将所述用于接合在一起的两个基板(1、2)的各自的正面(11、21)直接接合在一起。

著录项

  • 公开/公告号CN101106072B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 硅绝缘体技术有限公司;

    申请/专利号CN200710109053.7

  • 申请日2007-06-15

  • 分类号H01L21/00(20060101);H01L21/02(20060101);H01L21/20(20060101);H01L21/762(20060101);H01L21/84(20060101);

  • 代理机构11127 北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人李辉

  • 地址 法国伯涅尼

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-08-27

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 21/00 变更前: 变更后: 申请日:20070615

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2010-08-18

    授权

    授权

  • 2008-03-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-01-16

    公开

    公开

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