首页> 中国专利> 一种特别适用于光学、电子学或光电子学器件的基片加工方法和由该方法获得的基片

一种特别适用于光学、电子学或光电子学器件的基片加工方法和由该方法获得的基片

摘要

本发明涉及一种加工基片的方法,该基片包括一构成机械支承的一层来承载的薄层;这一加工方法特别适用于光学、电子学或光电子学器件。根据本发明的方法包括以下步骤:自源基片(6)上分离一层材料,以形成薄层(2);而后在薄层(2)上沉积材料制备一厚层(4),以形成构成机械支承的所述层。

著录项

  • 公开/公告号CN100442439C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-12-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 S.O.I.TEC绝缘体上硅技术公司;

    申请/专利号CN01820799.5

  • 发明设计人 B·吉斯内;F·勒泰特;

    申请日2001-11-26

  • 分类号

  • 代理机构北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人程伟

  • 地址 法国贝尔内

  • 入库时间 2022-08-23 09:01:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-12-10

    授权

    授权

  • 2005-01-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-10-27

    公开

    公开

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