首页> 中国专利> 除错系统及集成电路的扫描式除错方法

除错系统及集成电路的扫描式除错方法

摘要

除错系统及集成电路的扫描式除错方法,一种除错系统:包括一测试接口、一内嵌的电路内部仿真器(in-circuit emulator)、一待除错的电路以及一存储器。内嵌的电路内部仿真器用于透过测试接口进行软件除错,待除错的电路包括一扫描链(scan chain)将每一延迟触发器(delayed flip-flop)的状态丢出,存储器储存扫描链丢出的状态并将其透过测试接口传输到一计算机。本发明利用计算机上的软件与使用者接口对丢出的状态进行预处理(pre-processing)可使除错的方便度提升。

著录项

  • 公开/公告号CN101034135B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 联发科技股份有限公司;

    申请/专利号CN200710078793.9

  • 发明设计人 韩宜杰;璩又明;

    申请日2007-02-27

  • 分类号G01R31/317(20060101);G01R31/28(20060101);G01R31/3177(20060101);

  • 代理机构11127 北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人任默闻

  • 地址 中国台湾新竹科学工业园区

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-08-18

    授权

    授权

  • 2007-11-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-09-12

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号