公开/公告号CN110632033B
专利类型发明专利
公开/公告日2024.04.12
原文格式PDF
申请/专利权人 中国计量大学;
申请/专利号CN201911085109.9
发明设计人
申请日2019.11.08
分类号G01N21/55;G01N21/01;
代理机构
代理人
地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号中国计量大学
入库时间 2024-04-18 19:34:26
机译: 基于F-P干涉仪的反射透射增强相显微镜成像测量系统
机译: 基于F-P干涉仪的腔内双波长共通相显微镜成像测量系统
机译: fbg传感器的多点测量方法及多点测量装置