首页> 中国专利> 用共振散射光谱测定CdTe量子点粒径的方法

用共振散射光谱测定CdTe量子点粒径的方法

摘要

本发明公开了一种用共振散射光谱测定CdTe量子点粒径的方法,它是在常温下将CdTe溶液于带刻度的容器中,用亚沸高纯度水定容;将定容后的溶液放入石英池中,置于荧光分光光度计上,用Volt=500v,Ex.mono.Slit=Em.mono.Slit=5.0nm,同步扫描激发波长λex和发射波长λem(λex=λem),即得到CdTe量子点的共振散射光谱,利用共振散射波长和CdTe量子点粒径的线性关系,求得CdTe量子点粒径。这种用共振散射光谱测定CdTe量子粒径的方法优点在于:(1)操作简便、快速,只要测得CdTe量子点的共振散射峰波长λ,据λ=148.371n(d)+418.08,可求得其粒径(d);(2)具有较好的应用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN101196461B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广西师范大学;

    申请/专利号CN200710048701.2

  • 发明设计人 张声森;王素梅;蒋治良;

    申请日2007-03-17

  • 分类号

  • 代理机构桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司;

  • 代理人孙伊滨

  • 地址 541004 广西壮族自治区桂林市育才路15号广西师范大学

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-05-23

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 15/00 授权公告日:20100519 终止日期:20110317 申请日:20070317

    专利权的终止

  • 2010-05-19

    授权

    授权

  • 2008-08-06

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-11

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号