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表征具有问题折射率分布的玻璃基离子交换制品中的应力的棱镜耦合方法

摘要

本文公开的棱镜耦合方法涉及确定原始IOX制品的应力特征,所述原始IOX制品具有掩埋IOX区域,其具有掩埋折射率分布,该掩埋折射率分布从某种意义上讲是有问题的,其阻止使用棱镜耦合器系统来测量原始IOX制品。所述方法包括在原始IOX制品的掩埋IOX区域的表面部分中对原始IOX制品的掩埋IOX区域进行改性以形成经改性的IOX制品,所述经改性的IOX制品具有未掩埋的折射率分布,其允许使用棱镜耦合器来测量经改性的IOX制品。所述方法还包括使用棱镜耦合器系统来测量经改性的IOX制品的模式谱。所述方法还包括由经改性的IOX制品的模式谱来确定原始IOX制品的一种或多种应力特征。

著录项

  • 公开/公告号CN111801302B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2023.01.10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 康宁股份有限公司;

    申请/专利号CN201980016844.6

  • 发明设计人 V·M·施奈德;

    申请日2019.03.01

  • 分类号C03C21/00;G01M11/08;G01L1/24;G01N21/41;G01N21/84;G02B6/34;G01B5/04;G02B6/36;G01B11/06;G01B11/22;G02B6/134;G02B6/14;

  • 代理机构上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人张璐;乐洪咏

  • 地址 美国纽约州

  • 入库时间 2023-01-18 22:38:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-01-10

    授权

    发明专利权授予

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